Gerhard Hobler: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (27)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

Ion multibeam nanopatterning for photonic applications: Experiments and simulations, including study of precursor gas induced etching and deposition

Ebm, Christoph, Platzgummer, Elmar, Loeschner, Hans, Eder-Kapl, Stefan, Joechl, Peter, Kuemmel, Marco, Reitinger, Ruediger, Hobler, Gerhard, Koeck, Anton, Hainberger, Rainer, Wellenzohn, Markus, Letzk

Журнал:

Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.27 MB

english, 2009

2

Topography simulation of sputtering using an algorithm with second order approximation in space

Matthias Budil, Gerhard Hobler

Журнал:

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 337 KB

english, 2011

3

Modeling of precursor coverage in ion-beam induced etching and verification with experiments using XeF[sub 2] on SiO[sub 2]

Ebm, Christoph, Hobler, Gerhard, Waid, Simon, Wanzenboeck, Heinz D.

Журнал:

Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 690 KB

english, 2010

4

Probing the limitations of Sigmund's model of spatially resolved sputtering using Monte Carlo simulations

Hobler, Gerhard, Bradley, R. Mark, Urbassek, Herbert M.

Журнал:

Physical Review B

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.52 MB

english, 2016

5

Mission Reliability for URLLC in Wireless Networks

Hobler, Tom, Simsek, Meryem, Fettweis, Gerhard P.

Журнал:

IEEE Communications Letters

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 302 KB

english, 2018

6

Assessment of approximations for efficient topography simulation of ion beam processes: 10 keV Ar on Si

Christoph Ebm, Gerhard Hobler

Журнал:

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 444 KB

english, 2009

7

Boron implantation in Si: Channeling effects studied by SIMS and simulation

Chunsheng Tian, Stefan Gara, Gerhard Hobler, Gerhard Stingeder

Журнал:

Microchimica Acta

Рік:

1992

Мова:

english

Файл:

PDF, 477 KB

english, 1992

8

Sputter-redeposition method for the fabrication of automatically sealed micro/nanochannel using FIBs

Heung-Bae Kim, Gerhard Hobler, Andreas Steiger, Alois Lugstein, Emmerich Bertagnolli, Elmar Platzgummer, Hans Loeschner

Журнал:

International Journal of Precision Engineering and Manufacturing

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 713 KB

english, 2011

9

The significance of redeposition and backscattering in nanostructure formation by focused ion beams

Sloan Lindsey, Gerhard Hobler

Журнал:

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 969 KB

english, 2012

10

Simulation-based approach for the accurate fabrication of blazed grating structures by FIB

Kim, Heung-Bae, Hobler, Gerhard, Steiger, Andreas, Lugstein, Alois, Bertagnolli, Emmerich

Журнал:

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 255 KB

english, 2007

11

Fundamentals of Focused Ion Beam Nanostructural Processing: Below, At, and Above the Surface

MoberlyChan, Warren J., Adams, David P., Aziz, Michael J., Hobler, Gerhard, Schenkel, Thomas

Журнал:

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.53 MB

english, 2007

12

Full three-dimensional simulation of focused ion beam micro/nanofabrication

Kim, Heung-Bae, Hobler, Gerhard, Steiger, Andreas, Lugstein, Alois, Bertagnolli, Emmerich

Журнал:

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.31 MB

english, 2007

13

Level set approach for the simulation of focused ion beam processing on the micro/nano scale

Kim, Heung-Bae, Hobler, Gerhard, Steiger, Andreas, Lugstein, Alois, Bertagnolli, Emmerich

Журнал:

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.23 MB

english, 2007

14

Simulation of ion beam induced micro/nano fabrication

Kim, Heung-Bae, Hobler, Gerhard, Lugstein, Alois, Bertagnolli, Emmerich

Журнал:

Journal of Micromechanics and Microengineering

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 480 KB

english, 2007

15

Monte Carlo simulations of defect recovery within a 10 keV collision cascade in 3C–SiC

Rong, Zhouwen, Gao, Fei, Weber, William J., Hobler, Gerhard

Журнал:

Journal of Applied Physics

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 796 KB

english, 2007

16

Quantitative simulation of ion-beam induced deposition of nanostructures

Ebm, Christoph, Hobler, Gerhard, Waid, Simon, Wanzenboeck, Heinz D.

Журнал:

Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 851 KB

english, 2011

17

Combined binary collision and continuum mechanics model applied to focused ion beam milling of a silicon membrane

Hobler, Gerhard

Журнал:

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.75 MB

english, 2015

18

Simulation of Focused Ion Beam Induced Damage Formation in Crystalline Silicon

Hobler, Gerhard, Lugstein, Alois, Brezna, Wolfgang, Bertagnolli, Emmerich

Журнал:

MRS Proceedings

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 749 KB

english, 2003

19

Simulation of Ion-beam Induced Etching and Deposition Using a Non-local Recoil-based Algorithm

Ebm, Christoph, Hobler, Gerhard

Журнал:

MRS Proceedings

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 211 KB

english, 2009

20

Coupled Kinetic Monte Carlo and Molecular Dynamics Simulations of Implant Damage Accumulation in Silicon

Otto, Gustav, Hobler, Gerhard

Журнал:

MRS Proceedings

Рік:

2003

Файл:

PDF, 318 KB

2003

21

Electronic Stopping of Channeled Ions in Silicon

Hobler, Gerhard, Pötzl, Hans W.

Журнал:

MRS Proceedings

Рік:

1992

Мова:

english

Файл:

PDF, 358 KB

english, 1992

22

Sputtering of silicon membranes with nanoscale thickness

Hobler, Gerhard, Nietiadi, Maureen L., Bradley, R. Mark, Urbassek, Herbert M.

Журнал:

Journal of Applied Physics

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.41 MB

english, 2016

23

nanospheres

Urbassek, Herbert M., Nietiadi, Maureen L., Bradley, R. Mark, Hobler, Gerhard

Журнал:

Physical Review B

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.01 MB

english, 2018

24

Crater function moments: Role of implanted noble gas atoms

Hobler, Gerhard, Maciążek, Dawid, Postawa, Zbigniew

Журнал:

Physical Review B

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.66 MB

english, 2018

25

[IEEE 2019 IEEE 2nd 5G World Forum (5GWF) - Dresden, Germany (2019.9.30-2019.10.2)] 2019 IEEE 2nd 5G World Forum (5GWF) - On Dependability Metrics for Wireless Industrial Communications - Applied to IEEE 802.11ax

Trabl, Andreas, Scheuvens, Lucas, Hobler, Tom, Franchi, Norman, Fettweis, Gerhard P.

Рік:

2019

Файл:

PDF, 368 KB

2019

26

[IEEE 2019 IEEE 2nd 5G World Forum (5GWF) - Dresden, Germany (2019.9.30-2019.10.2)] 2019 IEEE 2nd 5G World Forum (5GWF) - Wireless Control Communications Co-Design via Application-Adaptive Resource Management

Scheuvens, Lucas, Hobler, Tom, Barreto, Andre Noll, Fettweis, Gerhard P.

Рік:

2019

Файл:

PDF, 444 KB

2019

27

[IEEE 2019 19th International Workshop on Junction Technology (IWJT) - Kyoto, Japan (2019.6.6-2019.6.7)] 2019 19th International Workshop on Junction Technology (IWJT) - Aspects of Highly-channeled MeV Implants of Dopants in Si(100)

Current, Michael, Hobler, Gerhard, Kawasaki, Yoji

Рік:

2019

Файл:

PDF, 10.23 MB

2019